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標(biāo)題: 基于DRV5013-Q1的汽車類數(shù)字鎖存霍爾效應(yīng)傳感器 [打印本頁(yè)]
作者: 拍明芯城 時(shí)間: 2018-10-18 16:49
標(biāo)題: 基于DRV5013-Q1的汽車類數(shù)字鎖存霍爾效應(yīng)傳感器
描述
DRV5013-Q1 器件是一款斬波穩(wěn)定霍爾效應(yīng)傳感器,能夠在整個(gè)溫度范圍內(nèi)提供具有出色靈敏度穩(wěn)定性和集成保護(hù)特性的磁場(chǎng)感測(cè) 特性。
磁場(chǎng)由數(shù)字雙極鎖存輸出表示。該集成電路 (IC) 配有一個(gè)灌電流能力達(dá) 30mA 的漏極開路輸出級(jí)。反向極性保護(hù)高達(dá) -22V 的寬工作電壓范圍(2.7 至 38V)使得此器件廣泛適用于各種汽車 應(yīng)用。
提供針對(duì)反向電源情況、拋負(fù)載和輸出短路或者過(guò)流的內(nèi)部保護(hù)功能。
特性
符合面向汽車應(yīng)用的 AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn):
器件 HBM ESD 分類等級(jí) 2
器件 CDM ESD 分類等級(jí) C4B
1 級(jí):TA = –40°C 至 125°C
0 級(jí):TA = –40°C 至 150°C
數(shù)字雙極鎖存霍爾傳感器
出色的溫度穩(wěn)定性
在溫度范圍內(nèi) BOP ±10%
多種靈敏度選項(xiàng) (BOP/BRP)
1.3/–1.3mT(FA)
2.7/–2.7mT(AD)
6/–6mT(AG)
12/–12mT(BC)
支持寬電壓范圍
2.7V 至 38V
無(wú)需外部穩(wěn)壓器
開漏輸出(30mA 灌電流)
35µs 短暫上電時(shí)間
小型封裝尺寸
表面貼裝 3 引腳小外形尺寸晶體管 (SOT)-23 (DBZ)
2.92mm × 2.37mm
插入式 3 引腳 TO-92 (LPG)
4.00mm × 3.15mm
保護(hù) 特性
反向電源保護(hù)(高達(dá) -22V)
支持高達(dá) 40V 拋負(fù)載
輸出短路保護(hù)
輸出電流限制
電池輸出短路保護(hù)
2 應(yīng)用
電動(dòng)工具
流量計(jì)
閥門和螺線管狀態(tài)
無(wú)刷直流電機(jī)
接近感測(cè)
轉(zhuǎn)速計(jì)
3 說(shuō)明
DRV5013-Q1 器件是一款斬波穩(wěn)定霍爾效應(yīng)傳感器,能夠在整個(gè)溫度范圍內(nèi)提供具有出色靈敏度穩(wěn)定性和集成保護(hù)特性的磁場(chǎng)感測(cè) 特性。
磁場(chǎng)由數(shù)字雙極鎖存輸出表示。該集成電路 (IC) 配有一個(gè)灌電流能力達(dá) 30mA 的漏極開路輸出級(jí)。反向極性保護(hù)高達(dá) -22V 的寬工作電壓范圍(2.7 至 38V)使得此器件廣泛適用于各種汽車 應(yīng)用。
提供針對(duì)反向電源情況、拋負(fù)載和輸出短路或者過(guò)流的內(nèi)部保護(hù)功能。
該產(chǎn)品相關(guān)品牌下其它產(chǎn)品詳細(xì)信息可咨詢:https://www.iczoom.com/brand/509-c-1-20.html
6.1 Absolute Maximum Ratings
over operating free-air temperature range (unless otherwise noted)
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Voltage ramp rate (VCC), VCC < 5 V | | | |
Voltage ramp rate (VCC), VCC > 5 V | | | |
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Output pin reverse current during reverse supply condition | | | | |
Magnetic flux density, BMAX | | | |
Operating junction temperature, TJ | | | | | |
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Storage temperature, Tstg | | | | |
(1) Stresses beyond those listed under Absolute Maximum Ratings may cause permanent damage to the device. These are stress ratings only, which do not imply functional operation of the device at these or any other conditions beyond those indicated under Recommended Operating Conditions. Exposure to absolute-maximum-rated conditions for extended periods may affect device reliability.
(2) Ensured by design. Only tested to –20 V.
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